三坐標(biāo)平面度的測(cè)量---請(qǐng)教

spaceship

請(qǐng)教各位：

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三坐標(biāo)在測(cè)量平面度時(shí)，輸出的結(jié)果是怎樣計(jì)算出來的,，和粗糙度有什么關(guān)系和區(qū)別,？和傳統(tǒng)的檢測(cè)方法結(jié)果又有多大的不同？

一劍飄紅

一般說來,，有兩種獲取數(shù)據(jù)的方法,，單個(gè)打點(diǎn)獲得若干關(guān)鍵位置的點(diǎn)，如遠(yuǎn)點(diǎn)與區(qū)域內(nèi)比例點(diǎn),，詳情可見具體工藝要求或者國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于平面度判定要求的取點(diǎn)原則,。一般�,。车剑磦�(gè)點(diǎn)即可。另一個(gè)是掃描的方法,，獲得高密度的點(diǎn)集,。

8 z+ [0 D$ F2 g: X. n6 A如果是高密度數(shù)據(jù)，則數(shù)據(jù)的分析處理一般按照下面的思路,。第一步,，濾波，濾波分兩種情況,，濾去平面波度變化的影響(可以通過設(shè)定截止波長(zhǎng)或者截止頻率)和濾去評(píng)價(jià)長(zhǎng)度上的個(gè)別壞點(diǎn)（可以通過＋/-3sigma變差篩選）,，濾波的目的是去除假點(diǎn)或者壞點(diǎn)，這些工作一般在編制程序時(shí),，從程序中選擇即可,，無需自己編寫代碼。第二步,，分析濾波后的數(shù)據(jù),，可以通過計(jì)算最小二乘平面，或者其它包容平面來計(jì)算平面度,。第三步,，輸出分析圖形或者平面度數(shù)值。
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如果是低密度數(shù)據(jù),，可以參照國(guó)標(biāo)中分析數(shù)據(jù)的方法,，如：三遠(yuǎn)點(diǎn)建立基準(zhǔn)平面，第４點(diǎn)到上述平面的距離即為平面度,。等等,。

天心

又學(xué)到了不少知識(shí).
' W$ w/ X8 p3 Z) E+ b  P& S& I樓上的兄臺(tái),能介紹一下最小二乘法嗎?像用最小二乘法如何計(jì)算圓的,等等.
% j8 J, ?2 S5 s6 G7 B# [謝謝了!!

spaceship

手動(dòng)采點(diǎn),，4點(diǎn)能夠真實(shí)反映出平面度嗎,，單個(gè)打點(diǎn)可不可以采多個(gè)點(diǎn)？

feifei2003

這完全取決于你的平面度的公差要求,。顯然4個(gè)點(diǎn)應(yīng)該是不夠的,。3點(diǎn)確定一個(gè)平面。4個(gè)點(diǎn)平面度幾乎接近于0,，沒有多大意義,。應(yīng)多采幾點(diǎn)，建議10個(gè)點(diǎn)以上,。最好機(jī)床自動(dòng)測(cè)量,，探測(cè)方向沿著工件的法向方向，測(cè)量準(zhǔn)確度較高,。
  H3 N& \: G# U* C, j平面度是比粗糙度更宏觀的概念,。也就是說平面度是微米量級(jí)的,，而表面粗糙度是更微觀的概念。
三座標(biāo)在測(cè)量平面度時(shí),，用測(cè)量點(diǎn)以最小二乘擬合一個(gè)平面,，包容所有測(cè)量點(diǎn)的兩個(gè)平行平面間的距離為平面度。這兩個(gè)平行平面平行于擬合的最小二乘平面,。
5 B1 |% ~1 {% ^; W1 M+ `最小二乘法的原理是,，所有測(cè)量點(diǎn)距離擬合元素（平面、支線,、圓,、圓柱）的距離的平方和最小。
' v4 u4 B* }2 m: z$ HEi=1-n（（Xi-XO)^2+(Yi-YO)^2-R^2）為最小,。公式較復(fù)雜,，自己推導(dǎo)吧。

spaceship

測(cè)量機(jī)測(cè)量出的平面度,，與傳統(tǒng)的方法檢測(cè)出來的結(jié)果怎樣來比較,？還有就是在平面度不好的情況下，兩個(gè)平面之間的尺寸是怎樣反映出來的,，是不是用AVG,，MIN，MAX,，來綜合體現(xiàn),？

luxiang821

2樓一劍和5樓的feifei2003 說的已經(jīng)很清楚了。
摟主所說傳統(tǒng)的方法,，是不是拿個(gè)表座放在被測(cè)平面上（被測(cè)件較大）推表的方法啊,。
如果是這樣，傳統(tǒng)的就是你所說的平均值,、最小值,、最大值。
9 Z% F, C! I. U4 l. h/ ]" V二者的算法不僅不一樣,，適用場(chǎng)合不同,。測(cè)量機(jī)所采用的應(yīng)該是接近理論的。
傳統(tǒng)的是滿足現(xiàn)場(chǎng)使用,。嚴(yán)格來講應(yīng)該采用測(cè)量機(jī)采點(diǎn)評(píng)定的方法,。
而且，平面度采點(diǎn)評(píng)定方法也不只最小二乘法一種,，還有最小包容區(qū)域法,、對(duì)角線平面法、三遠(yuǎn)點(diǎn)平面法,。以前和一劍交流過類似問題,，一劍是高手我就不弄斧了,。呵呵。
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測(cè)量機(jī)采點(diǎn)受粗糙度影響較大,，雖然說,，測(cè)量機(jī)采用的是理論的，但是,，實(shí)際使用時(shí)并不一定適合,，

feifei2003

為什么說測(cè)量機(jī)采點(diǎn)受粗糙度的影響？難道你的平面度的公差只有0.001mm,？如果要測(cè)得準(zhǔn),，采點(diǎn)密度必須大。

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比如說,，粗糙度12.5與0.8的結(jié)果會(huì)相同嗎,？是不是，在探針的選擇上有什么要求,？