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發(fā)表于 2009-7-21 11:20:20
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CPK CPK:Complex Process Capability index 的縮寫,是現(xiàn)代企業(yè)用于表示制程能力的指標,。9 }, V. s$ I8 ^1 R( w* ~# R
, I. \' k' J2 x7 @8 { 制程能力是過程性能的允許最大變化范圍與過程的正常偏差的比值,。
% J3 ^7 Z+ Q/ v% e R
+ A/ m5 E0 h. J4 R. t 制程能力研究在於確認這些特性符合規(guī)格的程度,以保證制程成品不符規(guī)格的不良率在要求的水準之上,,作為制程持續(xù)改善的依據,。# q+ [8 \2 r; M7 {
/ B+ i" X* c, A% d 當我們的產品通過了GageR&R的測試之后,我們即可開始Cpk值的測試,。9 @" g7 e& k9 D- Y" i
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CPK值越大表示品質越佳,。; J$ c3 w: V9 [& E) q
/ P' h L9 Y; g3 p
CPK=min((X-LSL/3s),(USL-X/3s))
7 ]4 A- b6 r# W- L3 _* s d y
& X- ~. C7 W& L% {. Q- H" T2 W& F# h Cpk——過程能力指數 5 z l& {7 N- c1 d! T
' R' U) q2 j d7 Z/ s0 Q
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
% o& I9 _: v( q5 H( U9 `; T2 H- H! a# w+ e3 O+ F1 D& C
Cpk應用講議 # c1 E; N1 J4 T7 w5 b" a
. v% W3 M5 N: D) ]' i
1. Cpk的中文定義為:制程能力指數,,是某個工程或制程水準的量化反應,,也是工程評估的一類指標。
" D3 s. I, a! t2 _$ g Q2 R& _, L$ R5 g$ Q, n
2. 同Cpk息息相關的兩個參數:Ca , Cp.
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Ca: 制程準確度,。 Cp: 制程精密度,。 . I/ D9 N4 Q3 Y# Y. Q5 _5 ~
" R6 E& L& @5 z7 P. o 3. Cpk, Ca, Cp三者的關系: Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應,,Ca反應的是位置關系(集中趨勢),,Cp反應的是散布關系(離散趨勢) # r4 F5 f1 d* }' f2 `. u9 L$ l
+ {- w& y! M) G( x7 }
4. 當選擇制程站別Cpk來作管控時,應以成本做考量的首要因素,,還有是其品質特性對后制程的影響度,。
( S f+ h4 S9 k- T; {# K ? K/ @2 i( b, s/ l8 G
5. 計算取樣數據至少應有20~25組數據,方具有一定代表性,。
, R: D3 `! T& z1 p K4 W ?* o- A. }0 a$ o( q2 m9 F- K
6. 計算Cpk除收集取樣數據外,,還應知曉該品質特性的規(guī)格上下限(USL,,LSL),才可順利計算其值,。 9 U! e+ g7 P- |. O. t
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7. 首先可用Excel的“STDEV”函數自動計算所取樣數據的標準差(σ),,再計算出規(guī)格公差(T),及規(guī)格中心值(u). 規(guī)格公差=規(guī)格上限-規(guī)格下限,;規(guī)格中心值=(規(guī)格上限+規(guī)格下限)/2; 1 @' r7 y+ u) R% v* v. q
; o) `. ~- a* \- y) g3 Q9 i5 l
8. 依據公式:Ca=(X-U)/(T/2) ,, 計算出制程準確度:Ca值 (x為所有取樣數據的平均值)
* }4 k5 c- i( `5 _3 y; M' x4 }8 ^
9. 依據公式:Cp =T/6σ ,, 計算出制程精密度:Cp值 & u) L: I$ K7 O$ u
2 H( U4 v2 G1 X# D* G 10. 依據公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) , 計算出制程能力指數:Cpk值 3 Q$ O* v; M$ S* q8 m
9 q8 Q: U$ A/ C# g Z" i7 u 11. Cpk的評級標準:(可據此標準對計算出之制程能力指數做相應對策) L# |- M# P& A- I
0 S. P6 m- B4 l2 _
A++級 Cpk≥2.0 特優(yōu) 可考慮成本的降低
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A+ 級 2.0 > Cpk ≥ 1.67 優(yōu) 應當保持之
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A 級 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良 能力良好,,狀態(tài)穩(wěn)定,,但應盡力提升為A+級 3 J6 y0 p2 `, A+ o. z* e
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B 級 1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般 狀態(tài)一般,制程因素稍有變異即有產生不良的危險,,應利用各種資源及方法將其提升為 A級
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% p, S9 d" h6 m) R0 s# R C 級 1.0 > Cpk ≥ 0.67 差 制程不良較多,,必須提升其能力
, Q& q, a+ L# o. ]; g: T7 {' |! h+ W1 T; x8 y
D 級 0.67 > Cpk 不可接受 其能力太差,應考慮重新整改設計制程,。 |
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