CMM測量之掃描簡述,一點(diǎn)拙見

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CMM掃描測量的一個(gè)前提條件是CMM要配備掃描探頭,，測量目的是在短時(shí)間內(nèi)采集大量的點(diǎn),。一般情況下，對于圓度,、直線度,、平面度、輪廓度等形狀公差可以用CMM掃描測量,。當(dāng)然,，碰到高精度的零件，還是要用專業(yè)的圓度儀來測量圓度,、直線度,、圓柱度等。CMM掃描測量可以更好的的從宏觀上去認(rèn)識(shí)零件,，尋求元素的特性,。
( k7 G% v5 |0 X  j7 U" A3 g. {1 LCMM掃描測量的另一用途是對于未知輪廓的探究。
當(dāng)然,，CMM掃描測量是涉及較深的,、知識(shí)面廣（如高速掃描時(shí)對儀器數(shù)據(jù)可靠性的修正、數(shù)據(jù)的濾波等）,，以上僅是一點(diǎn)點(diǎn)拙見,。
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