最近在設計一檢測設備,，請教

seebb · 發(fā)表于 2011-7-31 21:34:11

這個你可以參考下半導體封測行業(yè)內的測試機,，斜體的那種等下我給你找個圖片參考下

淬火之鐵 · 發(fā)表于 2011-7-31 21:36:18

seebb 發(fā)表于 2011-7-31 21:34
這個你可以參考下半導體封測行業(yè)內的測試機,，斜體的那種等下我給你找個圖片參考下

好謝謝!

灰常謝謝!
謝謝.

seebb · 發(fā)表于 2011-7-31 21:42:48

seebb · 發(fā)表于 2011-7-31 21:47:04

設備的原理是芯片從軌道上滑下,，檢測方向~放正位置~分離器~金手指測試~進入分選區(qū)~根據測試結果經滑車分別進入對應的料盒
希望能給你點啟發(fā)

jq2714 · 發(fā)表于 2011-8-1 12:36:41

不知道樓主想表達個什么意思,？期待……

淬火之鐵 · 發(fā)表于 2011-8-1 17:20:18

seebb 發(fā)表于 2011-7-31 21:47
設備的原理是芯片從軌道上滑下，檢測方向~放正位置~分離器~金手指測試~進入分選區(qū)~根據測試結果經滑車分別 ...

對,我那也是這樣的.

灰常謝謝.

ljtlwanm · 發(fā)表于 2011-8-8 09:16:31

說明的在詳細些~~~~~~~~~~~~~~~~~

liutao1919 · 發(fā)表于 2011-8-8 15:26:40

把產品的細節(jié)說清楚,，好比那四個方面產生殘次品
才能有的放矢

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