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發(fā)表于 2013-9-11 13:05:07
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本帖最后由 丹青-杜 于 2013-9-11 13:08 編輯 : ?) x# F0 H5 B# ^# D
0 y, X; Z' T \- ~5 ?/ P F: i) v
德國werth X射線斷層掃描三坐標(biāo)測量機(jī) 又稱 CT測量機(jī) CT-CMMs 工業(yè)CT+ a1 \* t+ u( z I; f- ^
: K8 c7 W$ v+ k/ [. u, c4 l
按照功率分為:130KV 150KV 190KV 225KV 300KV 325KV 450KV." `% r, g! l! u2 R, a8 \% @' d) i
9 v5 Y& D, ]; a/ GTomo X射線斷層掃描復(fù)合式三坐標(biāo)測量機(jī)
% U" e0 ?4 ?8 k; H8 o! Y
7 t5 G6 y7 g% `2 \6 d) @德國Werth測量技術(shù)公司創(chuàng)立于1951年,,總部位于德國著名的大學(xué)城吉森,。世界上第一個(gè)數(shù)顯游標(biāo)卡尺就出自Werth。TOMO X-CT測量機(jī),,全球第一家將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測量系統(tǒng),,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化準(zhǔn)確測量,并可選配光學(xué),、光纖,、探針,、激光掃描等多種傳感器。對工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測量,,同時(shí)可實(shí)現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析,。可對塑料,、陶瓷,、復(fù)合材料、金屬等多種材質(zhì)制成的產(chǎn)品進(jìn)行無損尺寸測量和裝配評估等,。壓縮測量周期的同時(shí),,保證了高品質(zhì)的要求。此機(jī)榮獲2005年度歐洲模具設(shè)計(jì)金獎(jiǎng),。
2 l7 z, s$ S) s2 k `! R3 X" o+ C& r) w+ W
Tomo測量機(jī)主要特點(diǎn): Z8 d6 f& ]) O( l' p
◆ 全球首家將X射線斷層掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測量系統(tǒng),,實(shí)現(xiàn)復(fù)雜部件高精度內(nèi)外尺寸全面測量
7 v* m* _3 I2 n( V- h5 n* x◆ 可選配第二個(gè)Z軸,配置其他傳感器(光學(xué),、探 針,、光纖、激光等)& u, L; ^% \1 ~9 B6 I0 n
◆ Werth公司專利技術(shù)復(fù)合式傳感器技術(shù),,進(jìn)一步保證 CT測量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確3 N! @+ d1 t8 ^, ]& W. R
◆ 堅(jiān)固的花崗巖基座,,保證機(jī)器具有高穩(wěn)定性+ x4 s o& t$ f, m7 f) H
◆ 高精密機(jī)械軸承技術(shù)及線性導(dǎo)軌系統(tǒng),確保實(shí)現(xiàn)最 高精度的測量
( t2 r/ G5 j* t" A3 K" r◆ 無論從設(shè)計(jì)還是結(jié)構(gòu),,測量機(jī)完全滿足并超出X射線使用安全標(biāo)準(zhǔn)* I- d' Q5 m2 r( I
◆ 基于Werth公司優(yōu)異的圖形處理及3D重構(gòu)技術(shù),,測量速度更快 7 J2 i M1 h5 D; P2 W
◆ Werth公司專利技術(shù)的X射線傳感器獨(dú)立校準(zhǔn)系統(tǒng)
: [! A; J! K2 A* p5 E- h7 E◆ Werth公司專利技術(shù)的柵格斷層掃描技術(shù):
% I" T0 o* a( Q+ f/ U 精密測量微小部件9 ^: Q* s |; G$ w
掃描更大尺寸工件,提高分辨率7 D3 ^3 ]$ W8 {2 c" L3 N# G
擴(kuò)展測量范圍
9 Y1 O# U- A* k' f2 T; M◆ 測量軟件可快速3D重構(gòu),,也可進(jìn)行2D測量6 h( Z" ?3 z8 W6 h0 b/ t
◆ 測量工件內(nèi)部尺寸的同時(shí),,也可實(shí)現(xiàn)材質(zhì)缺陷分析% O( f0 T# o0 l& J4 U6 B0 U
◆ 選用全球廣泛應(yīng)用的WinWerth軟件 (德國國家計(jì)量院PTB長度標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證) ,界面友好,,操作簡單
# C9 a, k2 z) }7 [7 T. ^% i! G◆ 可使用最佳擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進(jìn)行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對* C% F7 H! W$ E @" B7 u
◆ 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜尺寸測量,,首件評估,逆向工程,,質(zhì)量控制等; l4 z; r% F6 q: H _7 v5 L7 u( U
( V6 V- Q% k, k! J% d5 l6 V
應(yīng)用領(lǐng)域: 模具行業(yè),、逆向工程、汽車行業(yè),、航空航天,、精密機(jī)械加工、船舶等
! R8 O2 W# d% }+ |2 O5 V
% X* }3 }5 v% w7 k6 d6 f" K4 {- l技術(shù)參數(shù):4 t5 M9 [# G8 c2 v
, \- ^5 \3 I# y8 R, |# A }6 X% C最大測量工件尺寸(直徑)3 \: R. W0 z! R! ]9 ^
350mm1 s2 U9 h- ]3 x) [$ i
0 o; E) g: w' j2 n
最大測量高度
5 [& a5 d, f* O" m% T4 Z500mm' Z, G4 Q' T/ J$ D7 r
& r* O7 X) o8 N, T最大允許誤差 (用CT傳感器)
& ^5 q4 u; R& m+ I7 F(4,5+L/75) µm
: K; H. |0 Z( Q4 D% ?# v; L3 {4 k8 y/ @( i- h l
最大允許誤差(E1:單軸精度)
' i) @( G; b. H% ?(0,5+L/900)µm
! _2 S% r0 ~/ v' h. s5 j
+ K6 H1 `9 ]% I2 M; I) v/ f$ ? (E2:平面精度)$ z/ Z2 n* ~) ~; Z2 [' O( Y
((2,9+L/100) µm' A& C# g4 [. m$ H2 t6 o% N% U' _
# E) k- `0 t7 l' ?9 O
(E3:空間精度)
! K$ |2 j w/ }(4,5+L/75) µm3 h+ W- D! i3 j
9 Q, X5 F' o7 E
X射線源9 e# r3 O( w( T( n0 n1 _% o
130kV(150,190kV可選)( K3 x: Y6 a, [, ?' i: E: t4 ]
225kV(300KV 325KV 450kV可選)
! r1 o3 I! V6 [: v' Y
: P# t7 `2 D; Z- wX射線探測器像素& E) V* ?4 X* [) y9 O6 h$ y
2048x2048
$ I) s% m5 H' q* P9 L3 w a. L
0 c: g) d% M9 z) l7 yX射線探測器尺寸5 n8 f" B* T& P; Z }
400x400mm% A3 I) ~ c! O
" G* Q6 p9 } M8 {5 `
分辨率) T- r2 T2 m7 W. h' D. L) V+ { Q
0.1µm
4 A4 a5 y5 [" P/ d+ Q, j5 Q6 g2 E& B. D4 W9 z' J
定位速度: u9 m# \, l6 Q& [$ D& z1 x; `, c
150mm/s
( Y3 A |/ f) s' R; o6 ^8 ]3 o6 C
加速度 N3 [' q/ T* F- `
350 mm/s28 T, b* t, J2 T. k0 m
" D, {$ X/ l) G7 E9 g- S
工作臺承重$ g: X9 Y6 e' J" m( }
40kg
) ]" s% R# {$ e# e, z; M- s# ]0 N6 Z2 z( X# f6 d, @
電源! }$ Y, \) @4 G8 n
230V +/-10%& g7 [, r2 r. F7 K
3x400V/N/PE
& p" ~! @/ l" ]2 e+ I8 X2 u
2 l8 |. Q0 I0 }: D. l2 J/ X) S' R氣壓
5 |0 S w5 w* L5 M! S: f G" V7-10bar
% {% u! R: T2 E4 b# r& @ i! i5 A" H! z
儀器自重
/ o3 G, m9 x T+ o/ w2 t7 d! |3000kg~11000kg$ d$ I2 j$ g' J6 Q
! L5 N" c+ i0 P8 ?* F3 E( g2 N' ^
1). 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO 10360和VDI/VDE 2617,,使用TP200, WFP測量或CT傳感器選擇同等及更高精度探針修正或光學(xué)傳感器選用同等及更高精度探針修正5 u7 T3 p; P* I
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg8 X& u, t4 @% a) }+ S, m
! d, k& v. r+ S5 C1 K |
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