|
9#
![](static/image/common/ico_lz.png)
樓主 |
發(fā)表于 2011-5-24 11:09:36
|
只看該作者
如圖所示,,外圍尺寸137×127×5左右,多孔材料,,照片上不是太清楚,,表面比較粗糙,,要求測平面度,測量精度到0.01,。表面有孔,,實際上要測的是諸多高點所構(gòu)成平面的平面度。量比較大,,還要求效率,。+ Q, g. V2 X4 `2 Y( @+ ^% ~
0 D0 u' c' W/ n! t# y5 r: T用三坐標試過,慢,。是否有這種設(shè)備:把工件放好,,照一下就可以出數(shù)據(jù)?. \' S3 M5 m3 K) w' @3 G3 |3 l* s
$ `( T9 b; E$ O% v0 T9 a, _% H
平晶我問過,,說是表面光潔度要求在0.8以內(nèi),,不適用。
8 I8 l/ ^! [0 [/ ]' N" ]! r) m
7 d. O# v* \# s2 G# Q還有外形尺寸要求,,由于材料易碎,,想用投影設(shè)備。6 C+ y! ` O- u# B5 c0 S; x- {3 a
3 h3 g6 {2 E5 ?8 y# }后續(xù)的工序還有鍍層要測,,但基材不導電,,無磁性,是否有設(shè)備可測,,求助,。8 i% h. Z n* M) z1 V9 }& ~$ s
" k G7 B# q$ a% w2 l
- G% Q* f, ~0 l5 l |
本帖子中包含更多資源
您需要 登錄 才可以下載或查看,沒有帳號,?注冊會員
x
|