【特材知識】鹽酸對Hastelloy B-3的腐蝕影響& Q* o a2 {- N, g
鹽酸屬還原性強酸,大多金屬或合金在鹽酸介質中都會因活化腐蝕而溶解,,工程耐鹽酸腐蝕材料僅限于Ti,、Zr,、Ta,、Nb、W以及鎳基耐蝕合金,。HastelloyB-3是目前耐還原性介質腐蝕最好的鎳基耐蝕合金,,已廣泛應用于醋酸生產工藝及鹽酸儲存裝置。通過不同濃度與溫度鹽酸中的浸泡腐蝕試驗與電化學試驗,,研究濃度與溫度對B-3合金腐蝕行為,,了解B-3的材質性能。$ K& `# p( A) v
鹽酸濃度對B-3腐蝕速率的影響
( o: o! M( F( y; W9 E 圖4.1為80℃下,,HastelloyB-3在5%,、15%、20%,、30%,、37%不同濃度鹽酸中的腐蝕速率。! L5 [3 {( x, z" L7 n P7 `. Z
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圖4.1(a)為80℃,,HastelloyB-3腐蝕速率隨鹽酸濃度的變化,,隨著鹽酸濃度提高,腐蝕速率上升,,濃度低于20%,,上升緩慢;高于20%上升速度加快,。由圖4.1(b)為80℃,,HastelloyB-3每個周期腐蝕速率隨鹽酸濃度的變化。同一鹽酸濃度下,,隨著試驗時間延長,,腐蝕速率變化不大,表明腐蝕過程中,,合金表面狀態(tài)比較穩(wěn)定,。37%鹽酸中HastelloyB-3腐蝕速率仍然低于0.55mm/a,表明在純鹽酸中具非常好的耐蝕性,。
3 _+ l0 q" l/ J 圖4.2 是80℃中 Hastelloy B-3在5%,、15%、20%,、30%,、37%不同鹽酸濃度中浸泡144h后的微觀腐蝕形貌。) n' V6 B' o) f u1 L
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5%HCl中晶界處,、孿晶界處處有輕微的腐蝕痕跡,,碳化物沒有腐蝕;15%HCl中晶界和孿晶處有較輕的腐蝕痕跡,,并且晶界處的碳化物明顯脫落,;20%HCl中可以看到明顯的碳化物帶,,晶界和孿晶界有明顯的腐蝕,并且碳化物脫落,,形成明顯的點蝕源頭,;30%HCl中晶內的碳化物明顯脫落,發(fā)生明顯點蝕現(xiàn)象,;37%HCl中點蝕進一步擴展,,點蝕的數(shù)量和尺寸明顯增加。
! k' ?" l4 v+ T# B8 m7 U% v: b 碳化物帶處容易形成元素的富集,,造成能量的升高,,腐蝕行為優(yōu)先發(fā)生。同時由于碳化物為富鉬相,,碳化物的脫落造成周圍鉬元素的貧瘠,,鈍化膜進一步遭到破壞,從而使腐蝕進一步擴展,。隨著鹽酸濃度的上升,,晶界和碳化物帶的腐蝕痕跡明顯加深。隨著鹽酸濃度逐漸上升,,腐蝕痕跡逐漸加深,,點蝕程度逐漸加深。4 K! J! c. ]% D2 _- i/ }$ c s
鹽酸濃度對B-3電化學行為的影0 L5 Q6 A: r. y9 }# \
圖4.3為室溫下,,Hastelloy B-3在5%,、15%、20%,、30%,、37%HCl中的極化曲線。
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0 L$ }6 a/ N! v$ n: h$ N 由圖4.3可以看出,,隨著鹽酸濃度逐漸升高,,極化曲線整體下移,自腐蝕電位下降,,過鈍化電位下降,,但鈍化區(qū)長度與斜率變化不大,鈍化電流密度也未顯著增加,,表明隨著鹽酸濃度升高,,合金表面鈍化膜的狀態(tài)比較穩(wěn)定,。同時鈍化區(qū)域電流密度逐漸增加,,即在相同的鈍化電位下,鈍化電流密度逐漸增加,,鈍化膜穩(wěn)定性逐漸下降,。鈍化膜穩(wěn)定性下降,,材料在鹽酸中的腐蝕速率逐漸增加。
/ y. P; e) y2 ]2 C# V/ t( v 圖4.4為HastelloyB-3在室溫下,,不同濃度鹽酸中電化學實驗后的微觀腐蝕形貌,。
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由圖4.4可以看出,位于晶界處的碳化物首先脫落形成點蝕的源頭,,并且隨著電化學實驗的進行,,點蝕坑深度逐漸增大。在低濃度的鹽酸中,,材料有明顯的點蝕坑,,晶界和孿晶界并不明顯;隨著鹽酸濃度升高,,材料中有明顯的點蝕坑,,晶界和孿晶界也有明顯被腐蝕的痕跡。 ) a7 ~2 w# p$ d6 r
在鹽酸環(huán)境中,,材料碳化物和晶界容易形成元素的富集,,造成能量的升高,在腐蝕過程中容易形成“大陰極小陽極”的現(xiàn)象,,腐蝕容易在晶界處發(fā)生,。碳化物為富鉬相,碳化物的溶解造成周圍區(qū)域鉬元素的貧瘠,,鈍化膜穩(wěn)定性進一步遭到破壞,,從而使腐蝕進一步發(fā)展。 ; ?6 i: T0 l8 {" F( D Z
溫度對B-3腐蝕速率的影響0 I% t+ {9 B3 x n9 ^! U* q* f$ e7 E k
圖4.5為15%HCl中,,Hastelloy B-3在室溫,、40℃、60℃,、80,、98℃條件下的腐蝕速率。
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圖4.5(a)為腐蝕速率隨溫度變化曲線,,當溫度低于60℃時,,腐蝕速率增加緩慢,當溫度大于60℃時,,腐蝕速率急劇增加,。98℃下,15%HCl中,,HastelloyB-3的腐蝕速率為0.31mm/a,,具有一定的耐蝕性能。圖4.5(b)為每個周期腐蝕速率的變化曲線,,隨著時間的延長,,室溫,、40℃、60℃,、80℃條件下,,腐蝕速率基本不變;98℃條件下,,腐蝕速率有小幅下降,。
; a1 Q7 M1 C8 K8 m7 V; K 圖4.6為15%HCl中,Hastelloy B-3 在室溫,、60℃,、80℃、98℃不同溫度浸泡144h 后的微觀腐蝕形貌,。$ Y8 E. J1 t# O% k
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在室溫條件下,,晶界和孿晶界有輕微腐蝕痕跡,碳化物未被腐蝕,;在60℃下,,晶界和孿晶界有較輕的腐蝕痕跡,碳化物脫落,,形成點蝕的源頭,;在80℃下,晶界和孿晶界有明顯腐蝕痕跡,,碳化物脫落,,出現(xiàn)點蝕現(xiàn)象;在98℃下,,晶界和孿晶界腐蝕痕跡進一步加深,,碳化物大量脫落,出現(xiàn)嚴重點蝕,。
5 Q: c( S9 [! ^) M- p 溫度對B-3電化學行為的影響
! D; b; K( N. F 圖4.7在15%HCl中,,Hastelloy B-3在不同溫度中的極化曲線。% [1 a L" V( O8 K# {" K2 X) G' c
0 p4 O& W0 Y+ U 隨著溫度上升,,合金的自腐蝕電位逐漸升高,,過鈍化電位下降,鈍化區(qū)區(qū)域變短,,試樣很容易進入過鈍化區(qū),,形成過鈍化腐蝕;鈍化區(qū)曲線斜率減小,,電位變化對電流影響增大,,鈍化膜穩(wěn)定性減弱。
& c# R9 y5 x: I; U F+ r 圖4.8為不同溫度條件下,HastelloyB-3在15%HCl中的微觀腐蝕形貌,。
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1 W* _! R6 M2 j" c) s! P) E/ ] 圖4.8可以看出,,經過電化學實驗,,材料中的析出物脫落,,形成了點蝕的源頭。在室溫條件下,,晶界,、孿晶界和碳化物明顯腐蝕。隨著溫度上升,,晶界和孿晶界腐蝕痕跡明顯加深,,點蝕坑數(shù)量和尺寸明顯增加。+ F: s: P5 c6 P9 i& z
HastelloyB-3試驗的總結6 ?$ m$ o. c) h0 Y% U& A: S1 x1 A
實驗結果可以看出,,鹽酸濃度和溶液溫度對HastelloyB-3腐蝕速率和極化曲線的影響有相似的地方,,其中包括:
4 R) @+ ^# V }) A+ E9 ~ ①鹽酸濃度升高或者溫度上升,材料的腐蝕速率增加,; 3 F7 i, P1 ] g$ y: f/ Y
②鹽酸濃度升高或者溫度上升,,鈍化區(qū)域變窄,鈍化區(qū)曲線斜率變�,�,;0 `: O& ?7 X1 H* g0 @* {. R
③鹽酸濃度升高或者溫度上升,過鈍化電位下降,; 6 k9 u6 ^. k7 n
但兩者對極化曲線的影響是相反的,,主要區(qū)別如下:
9 ^% m- _6 Q+ z, k ①鹽酸濃度升高,自腐蝕電位下降,; 0 O. p) d: z( H4 _
②溶液溫度升高,,自腐蝕電位也增加。 $ W8 m7 g o+ r' B: R# O
因此,,兩者對HastelloyB-3在鹽酸中的腐蝕影響程度是不同,,與鹽酸濃度相比,溫度是相對更重要的影響因素,。因為溫度升高使自腐蝕電位升高的同時,,也使過鈍化電位下降,兩者之間的鈍化區(qū)域必然變窄,。而鹽酸濃度使自腐蝕電位下降的同時也使過鈍化電位下降,,鈍化區(qū)域沒有明顯變化。即對于Hastelloy B-3,,溫度對極化曲線的影響程度大于鹽酸濃度,。, o9 O# r' \5 c4 w2 R
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