求解形位公差的檢測方法

dyq711

在測量某一形位公差時(shí)，往往會收到另一形位公差的干擾,，比如,，在測兩個(gè)圓孔的軸線垂直度的時(shí)候,，會受到兩個(gè)圓孔的同軸度的影響，這樣雖然能得到垂直度,，但是垂直度里面有同軸度的影響,，得到的垂直度不是很可信,，那應(yīng)該怎么正確的測量一個(gè)受到干擾的形位公差，還有有沒有這樣一種理論,，就是兩個(gè)形位公差相互干擾時(shí),，測得一個(gè)值，通過這個(gè)值的概率分布,，可以得到這個(gè)值是同時(shí)滿足兩個(gè)形位公差,。小弟愚昧，不知道這個(gè)問題提的對不對,。
小弟剛工作,，還需要學(xué)習(xí)的很多，謝謝給位前輩的支點(diǎn)
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成歌2047

兩條圓孔軸線的垂直度,，應(yīng)該是沒法測量的吧？孔軸線的垂直度一般是標(biāo)注對平面的垂直度,。

未來第一站

1.尺寸,，形位公差原則的第一條就是獨(dú)立原則
2.上學(xué)時(shí)的書沒丟，好好看看 《互換性與測量技術(shù)基礎(chǔ)》